0 引言

    流水線產(chǎn)品的缺陷檢測目前仍靠人工來完成，對于微小的、區(qū)別不明顯的缺陷，人眼無法精確識別，這極大地影響了產(chǎn)品的生產(chǎn)效率^[1]。基于STM32F405和CMOS OV7610的產(chǎn)品表面圖像處理系統(tǒng)，以其完全脫離計算機(jī)且運行速度快、設(shè)計成本低、性價比高等優(yōu)點，更好地滿足了圖像處理在產(chǎn)品表面的圖像采集與智能檢測方面的工作要求。

1 系統(tǒng)硬件設(shè)計

    系統(tǒng)主要由STM32F405微處理器、CMOS圖像采集模塊、LCD顯示模塊、存儲器模塊、通信模塊等組成，系統(tǒng)框圖如圖1所示。在光源的配合下通過圖像采集模塊獲取產(chǎn)品表面的圖像信息，由DMA將圖像數(shù)據(jù)傳輸?shù)絊TM32F405微處理器，處理器調(diào)用圖像處理算法對產(chǎn)品表面圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，利用控制終端的圖像處理軟件匹配、識別產(chǎn)品表面是否存在缺陷，并在LCD顯示屏上實時顯示結(jié)果，實現(xiàn)對產(chǎn)品表面圖像的采集和處理。

2 主要模塊設(shè)計

2.1 主控模塊

    基于圖像處理的產(chǎn)品表面圖像采集和處理系統(tǒng)選用STM32F405作為主處理器，該芯片具有高性能的信號處理和浮點運算能力，同時帶有8～14 bit并行照相機(jī)接口、DMA控制器、2路I²C接口，圖像數(shù)據(jù)的傳輸可以通過DMA直接傳輸，在I²C總線讀取數(shù)據(jù)到緩沖區(qū)，提高了圖像數(shù)據(jù)的采樣和處理速度，完成包括數(shù)據(jù)處理、檢測算法實現(xiàn)、結(jié)果提取和分析等工作^[2]。主控芯片獲得處理結(jié)果后，將數(shù)據(jù)傳輸?shù)綀?zhí)行機(jī)構(gòu)，執(zhí)行機(jī)構(gòu)根據(jù)最終獲取的控制信號進(jìn)行相應(yīng)操作。

2.2 圖像采集模塊

    圖像采集模塊采用Omnivision公司的OV7610，這是一種自帶圖像敏感陣列、能直接采集圖像信息的低功耗CMOS型彩色數(shù)字?jǐn)z像芯片^[3]。采集圖像時最高速度可達(dá)30幀/s，最大圖像陣列為640×480，通過I²C總線對有關(guān)存儲器賦值，可靈活改變窗口大小、A/D轉(zhuǎn)換速度、幀/場模式等工作參數(shù)。

    圖像采集芯片OV7610既可以幀模式掃描也可以場模式掃描，為提高圖像存儲質(zhì)量、簡化圖像采集控制電路，本系統(tǒng)設(shè)置OV7610圖像采集方式為幀模式掃描^[4]。OV7610的輸出信號主要有：垂直同步信號(Vs)、水平同步信號(Hs)及像素同步信號(Ps)，其理論波形如圖2所示。

    完整的一幀產(chǎn)品表面圖像在垂直同步信號的兩個正脈沖之間掃描完成，水平同步信號高電平時為掃描一行像素的有效時間，像素同步信號高電平輸出的圖像數(shù)據(jù)有效^[5]。若一個圖像的陣列為160×120，則在垂直同步信號兩個脈沖之間有120個水平同步信號的正脈沖，在每個水平同步信號正脈沖期間有160個像素同步信號正脈沖。為獲取完整幀圖像，將上述3個同步信號組合成一個輸出信號(OUT)。

3 系統(tǒng)軟件設(shè)計

    系統(tǒng)選用KeilμVision5 軟件開發(fā)平臺和Visual C++可視化編程軟件協(xié)同工作^[6]。系統(tǒng)運行時，啟動采集信號發(fā)送到STM32F405主控制器，控制器接收指令后立即進(jìn)行初始化，初始化成功后響應(yīng)DMA中斷，根據(jù)圖像采集時序來控制CMOS OV7610啟動圖像采集，采集的圖像數(shù)據(jù)將通過DMA先進(jìn)先出傳送到STM32F405的外部存儲器中^[7]。在采集完成后，STM32F405將進(jìn)行點陣采樣、量化處理和二值化等過程完成產(chǎn)品表面圖像處理工作。系統(tǒng)流程圖如圖3所示。

    產(chǎn)品表面的圖像采樣是選取圖像的采樣點在空間坐標(biāo)上作離散化的過程。本系統(tǒng)設(shè)計使用二維采樣函數(shù)對產(chǎn)品表面的圖像進(jìn)行采樣，獲得圖像預(yù)處理采樣點陣。

    設(shè)f(x，y)為一個有限帶寬的二維連續(xù)圖像，f(x，y)的傅里葉變化對為：

    對圖像f(x，y)采樣，就是將f(x，y)乘以采樣函數(shù)s(x，y)。采樣后的圖像可以用式(3)表示：

    由卷積與脈沖函數(shù)可得采樣圖像f_s(x，y)的頻譜是連續(xù)圖像在(u，v)方向上以Δx、Δy間隔分布，間隔選擇合適，采樣就不會重疊，可獲得期望的采樣點陣。由于經(jīng)過采樣的圖像是連續(xù)點陣，各個像素的值有無窮多個，為了方便主控制器處理，需將無窮多個離散值簡化為有限個離散值，即量化處理后才能將每個互異的離散值編碼處理^[8]。

    為了加快處理速度，系統(tǒng)將16 bit RGB彩色圖像轉(zhuǎn)化成8 bit灰度圖像，由此不但可以提高主控制器的處理速率，而且減小了圖像的冗余量。圖像灰度化后，利用Canny邊緣檢測算子提取圖像邊緣，將邊緣二值化。在選定一個閾值時，將灰度直方圖中大于該閾值的像素點變成1，小于該閾值的像素點變成0：

其中，f(x，y)為輸入圖像像素的灰度值，g(x，y)為輸出圖像，θ為閾值。

    將處理后的產(chǎn)品表面圖像與預(yù)存模板匹配，由對比結(jié)果得出該產(chǎn)品是否存在缺陷。圖像匹配過程就是在基準(zhǔn)圖像和待處理圖像之間尋找兩幅圖像差異最小的相對位置，通常將其描述為求距離度量：

式中，k為灰度變化幅度。

4 調(diào)試及實驗結(jié)果分析

    系統(tǒng)測試主要針對硬件和軟件進(jìn)行測試。硬件測試主要針對核心處理器的外圍電路，其中包括電源模塊、I/O輸入輸出模塊及通信接口等電路。軟件測試分別對STM32F405和CMOS OV7610的各個功能的子程序進(jìn)行測試。

    為了驗證本系統(tǒng)表面缺陷檢測的準(zhǔn)確性和可靠性，對金屬產(chǎn)品表面進(jìn)行缺陷檢測實驗。缺陷檢測部分的灰度圖像大小為160×120像素。圖4為裂縫缺陷和污點缺陷的檢測結(jié)果。

5 結(jié)論

    本系統(tǒng)旨在將圖像采集與處理技術(shù)應(yīng)用于產(chǎn)品表面缺陷檢測，以及識別復(fù)雜、模糊的產(chǎn)品表面圖像^[9]。利用STM32F405超強(qiáng)的計算性能和低功耗優(yōu)勢，提出了CMOS圖像采集與STM32圖像處理結(jié)合的平臺架構(gòu)，設(shè)計了處理能力強(qiáng)、接口可靠穩(wěn)定的產(chǎn)品表面圖像采集與檢測系統(tǒng)，在系統(tǒng)中實現(xiàn)了點陣采樣、灰度轉(zhuǎn)化和二值化等算法設(shè)計，并對平臺應(yīng)用的處理性能、實時性和可靠性進(jìn)行了實驗測試，取得了一定的階段性成果。

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作者信息:

高正中，趙晨暉，薛  寒，商春雷

（山東科技大學(xué) 電氣與自動化工程學(xué)院，山東 青島266590）