| NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：5016 K | |
| 標(biāo)簽： NI HIL測試 硬件在環(huán)測試 | |
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| 文檔介紹：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在環(huán)測試（Hardware in the Loop, HIL），是指將真的控制器連接仿真的被控對象（用實(shí)時(shí)仿真硬件來模擬），以一種高效、低成本的方式對控制器進(jìn)行全面測試。 乘著智能汽車的風(fēng)口，HIL（硬件在環(huán)測試）被業(yè)界所熟知。更早以前，HIL測試主要用于航空航天行業(yè)，隨著醫(yī)療、消費(fèi)電子行業(yè)越來越多使用嵌入式軟件，HIL測試逐漸在這些行業(yè)普及開來。 | |
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