天線測量解決方案領導者Microwave Vision Group（MVG）近日宣布與歐洲航天局 (ESA) 簽訂兩份合同，位于荷蘭的歐洲航天研究和技術中心 (European Space Research and Technology Centre, ESTEC)將通過MVG天線測量技術為其新型改進射頻測試設施Hertz 2.0提供補充。
Hertz 2.0將受益于大型多軸定位器，使中型和重型被測設備 (DUT) 能夠在任何角度方向上進行高精度測試。MVG 與 DUT 定位器一起為緊縮場(CATR)饋源提供定位系統。
為了進一步提高 HERTZ 2.0 的測試能力，該機構還指定 MVG設計和制造大型平面近場 (PNF) 掃描儀，并提出了具有挑戰性的要求——在不使用時將其隱藏在緊湊型范圍系統后面。
HERTZ 2.0設施的尺寸將明顯大于 HERTZ 1.0 ——長32m x 寬25m x 高18m，并將確保高精度的端到端天線和衛星測試頻率范圍很廣——從 1 GHz 到幾百 GHz。當代衛星中電子設備和天線系統的集成特性激發了這種擴展。 HERTZ 2.0將容納一個緊湊的遠場測試范圍以及一個平面近場掃描儀；二合一測試室可容納目前正在開發的最大衛星及其復雜的射頻有效載荷和通信系統的測試。
暗室中的另一個二合一選項與DUT定位系統有關。該安裝將允許切換兩個先進的 MVG 定位子系統：一個帶有翻轉升降 (AZ/EL) 定位器的重型塔，負載能力高達6000公斤，將允許測試完整的衛星有效載荷和非常重的天線；一個更適合輕型DUT定位要求的中型系統，將由塔式和輥式定位器組成。
新型饋源定位器除了能夠將饋源喇叭精確定位在雙反射鏡緊湊型范圍系統的焦點之外，還具有在焦平面中掃描饋源并在靜區（QZ）中將平面波傳播方向移動幾度的能力。
平面近場掃描儀對于精確表征至關重要的高性能高頻天線特別有用。在這種情況下，為了驗證太空中的全部功能，衛星有效載荷和天線系統將在專用吸波測試暗室的受控環境中進行測試。使用近場平面掃描儀的測試配置還將避免大型DUT的移動，從而優化測量效率和精度。
借助MVG 提供的解決方案，可以根據DUT的機械特性調整定位器，并在緊縮場（CATR）和平面近場（PNF）之間選擇最合適的天線測量技術，從而針對特定測量活動重新配置測試設施。該測試設施還將配備 MVG 最先進的WaveStudio天線測量軟件，該軟件將允許數據采集、可視化和后處理，從而進一步提高測試效率。 MVG 提供的最先進的定位器和平面近場（PNF）掃描儀將在增強 歐洲航天研究和技術中心設施的測試能力方面發揮重要作用。 Hertz 2.0 注定要在電磁測試和測量方面實現無與倫比的準確性和效率，并推動歐洲衛星開發和空間應用的創新和進步。
