| USB3.0的物理層測(cè)試簡介與難點(diǎn)分析 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 文檔大小：921 K | |
| 標(biāo)簽： 接口IC | |
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| 文檔介紹：本文簡要介紹了USB3.0的物理層測(cè)試內(nèi)容和測(cè)試難點(diǎn)。力科的一致性測(cè)試軟件QualiPHY-USB3.0可以控制示波器、誤碼率測(cè)試儀PeRT3，快捷的、全自動(dòng)的測(cè)量USB3.0的所有測(cè)試項(xiàng)目，大大的簡化了工程師的測(cè)試與調(diào)試時(shí)間，是業(yè)內(nèi)最全面和 快捷的測(cè)試解決方案。 | |
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