| 基于芯粒的Flash FPGA驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：3829 K | |
| 標(biāo)簽： 芯粒 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 主控寄存器 | |
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| 文檔介紹：針對(duì)基于芯粒的Flash FPGA驅(qū)動(dòng)覆蓋率測(cè)試，利用Flash FPGA的系統(tǒng)控制寄存器與邊界掃描寄存器模塊，配置FPGA不同的驅(qū)動(dòng)模式，并通過(guò)傳統(tǒng)的單芯片F(xiàn)lash單元配置進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，基于芯粒的Flash FPGA控制寄存器配置的驅(qū)動(dòng)性能與傳統(tǒng)的單芯片F(xiàn)lash單元配置一致，測(cè)試時(shí)間縮短到1/3。 | |
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