| UEFI固件Double-fetch條件競(jìng)爭(zhēng)漏洞模糊測(cè)試技術(shù)研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>1627 K | |
| 標(biāo)簽： UEFI Double-fetch漏洞 模糊測(cè)試 | |
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| 文檔介紹：基于統(tǒng)一可擴(kuò)展固件接口(Unified Extensible Firmware Interface, UEFI)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)的固件已廣泛應(yīng)用于個(gè)人計(jì)算機(jī)、云服務(wù)器以及網(wǎng)絡(luò)設(shè)備, UEFI固件服務(wù)漏洞會(huì)引發(fā)嚴(yán)重安全威脅，模糊測(cè)試是檢測(cè)漏洞的主要手段。然而，受限于傳統(tǒng)內(nèi)存類漏洞機(jī)理，當(dāng)前UEFI固件模糊測(cè)試方法無法檢測(cè)諸如UEFI固件Doublefetch條件競(jìng)爭(zhēng)漏洞等特殊類型漏洞。提出了Double-fetch信息引導(dǎo)的UEFI固件服務(wù)模糊測(cè)試方法,并實(shí)現(xiàn)了原型系統(tǒng)UEFIDFFuzzer，通過對(duì)來自英特爾廠商的114個(gè)UEFI固件服務(wù)驅(qū)動(dòng)進(jìn)行測(cè)試, UEFIDFFuzzer發(fā)現(xiàn)了兩個(gè)現(xiàn)有UEFI模糊測(cè)試工具RSFuzzer以及靜態(tài)分析工具efiXplorer沒有發(fā)現(xiàn)的UEFI固件Double-fetch零日漏洞。 | |
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