| 一種用于高頻S參數的去嵌算法 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：4243 K | |
| 標簽： S參數 去嵌 高頻信號 | |
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| 文檔介紹：在S參數的測量過程中，需通過去嵌方法去除測試夾具帶來的結果誤差。該算法通過時域的方法對夾具進行分解。接著將分解得到的夾具S參數采用ABCD矩陣運算進行去除，從而得到待測器件的S參數。通過設計測試板來進行實驗，將該算法與傳統的AFR和Delta L方法進行了比較，驗證了該去嵌算法對高頻信號的有效性以及準確性。同時由于該算法先分解再去嵌的特性，使其可應用于左右夾具不一致的情況。 | |
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