摘要

為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的作用變得越來越重要。實現(xiàn)電信號與光信號之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案，尤其是用于對高度集成的光器件執(zhí)行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)，但已經(jīng)有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測試效率和準(zhǔn)確度。

正文

為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的關(guān)鍵作用日益顯現(xiàn)。實現(xiàn)電信號與光信號之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案，尤其是能夠?qū)Ω叨燃傻墓馄骷?zhí)行測試的解決方案。光器件能夠高效轉(zhuǎn)換電信號和光信號，在支撐現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心發(fā)展過程中的作用舉足輕重。尤其是用戶對于更高速度、更小尺寸和更大數(shù)據(jù)流量的需求不斷增長，推動了高度集成的光器件的長足發(fā)展。這些先進(jìn)的器件將眾多功能和元器件整合在一起，有助于打造高效的小型化系統(tǒng)。

測試高度集成的光器件需要用到大量高精度的偏置信號源。以圖 1 所示為例，對集成的可調(diào)諧波長激光源執(zhí)行測試，需要為激光二極管提供精密的電流源，以確穩(wěn)定的保光學(xué)性能。此外，在測試過程中還需要為每個加熱器提供高精度的偏置信號源，以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)半導(dǎo)體光放大器（SOA）的波長。同樣，相干光收發(fā)信機(jī)也需要采用多個能夠與相位控制電極精準(zhǔn)同步的高精度偏置信號源，以便將電信號準(zhǔn)確轉(zhuǎn)換為光信號。

為了測試可調(diào)諧激光源和相干接收機(jī)的光功率和波長，工程師要通過非常精細(xì)的偏置掃描來完成詳細(xì)的表征。因此，他們會遇到測試時間顯著延長以及熱效應(yīng)帶來預(yù)料之外的波長偏移等問題。為了解決這類問題，一種有效方案是盡量縮短每個掃描步驟的持續(xù)時間，實現(xiàn)快速掃描。

光器件測試的必要性

光器件是高速數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的命脈。無論是把光信號轉(zhuǎn)換成電信號的接收機(jī)，還是對數(shù)據(jù)進(jìn)行載波整形然后編碼到光載波上的調(diào)制器，這些元器件構(gòu)成了現(xiàn)代通信網(wǎng)絡(luò)的基石。人們不懈地追求更高的數(shù)據(jù)傳輸速率，希望數(shù)據(jù)中心具有更大帶寬，這樣的需求給光器件帶來了巨大的負(fù)擔(dān)。測試這些元器件的關(guān)鍵意義在于確保它們在數(shù)據(jù)中心的動態(tài)環(huán)境下維持可靠性、出色的性能和兼容性。

對光器件執(zhí)行測試是保證元器件能夠經(jīng)受考驗實現(xiàn)連續(xù)運行的關(guān)鍵舉措。嚴(yán)格的測試有助于發(fā)現(xiàn)元器件中可能存在的弱點、漏洞或性能局限，以便工程師完善設(shè)計并實施改進(jìn)。隨著數(shù)據(jù)中心架構(gòu)的不斷升級以及對能效要求的進(jìn)一步提高，測試對于盡最大可能降低光器件的功耗并優(yōu)化熱特性有著重大意義。

準(zhǔn)確的測試還有助于驗證理論模型和仿真過程，確保這些元器件在現(xiàn)實場景中的表現(xiàn)與預(yù)期相符。工程師必須確信光器件能夠在各種條件下可靠地工作，完美應(yīng)對溫度變化、功率波動和信號失真等情況。

除了確保單個元器件的穩(wěn)健性，測試對于提高整個系統(tǒng)的集成度也意義重大。通過在測試階段發(fā)現(xiàn)并解決兼容性、信號完整性和互操作性等問題，能夠避免在數(shù)據(jù)中心部署的后期階段出現(xiàn)潛在隱患。

遵守行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)至關(guān)重要，全面的測試是滿足乃至超越這些基準(zhǔn)要求的關(guān)鍵。無論標(biāo)準(zhǔn)涉及的是光功率電平、信噪比還是比特誤碼率，測試都能確保光器件符合行業(yè)制定的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)。

從本質(zhì)上講，光器件測試的重要性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了質(zhì)量控制，成為了提高數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡(luò)能力一個戰(zhàn)略性舉措。通過對元器件執(zhí)行嚴(yán)格的測試，工程師為推動創(chuàng)新掃清了障礙，能夠進(jìn)一步提升數(shù)據(jù)中心基礎(chǔ)設(shè)施的效率、可靠性和整體性能，制勝未來。

光器件測試面臨的挑戰(zhàn)

在數(shù)據(jù)中心環(huán)境下完成復(fù)雜的光器件直流（DC）偏置測試對工程師而言存在諸多挑戰(zhàn)。本文旨在剖析這些挑戰(zhàn)，看看工程師會遇到哪些障礙。

精度要求：控制偏置電壓和電流需要的精度是一個非常大的挑戰(zhàn)。光器件與生俱來就對偏置變化非常敏感，要求的精度水平超出了傳統(tǒng)測試設(shè)備的極限。由于光器件的容差小，又具有動態(tài)特性，因此達(dá)到并保持必要的精度頗有難度。

動態(tài)運行條件：數(shù)據(jù)中心環(huán)境是一個動態(tài)環(huán)境，溫度、功率和信號條件的波動都是常態(tài)。在這樣的動態(tài)運行條件下保持穩(wěn)定的直流偏置相當(dāng)有難度。光器件必須始終如一地可靠運行，即便在偏置電平快速變化的情況下也是如此，因此對這些元器件進(jìn)行測試就非常有必要。

調(diào)制器的非線性特性：調(diào)制器作為光通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵元器件，其非線性特性會讓測試流程變復(fù)雜。傳統(tǒng)的測試設(shè)備可能需要幫助才能準(zhǔn)確捕捉和再現(xiàn)復(fù)雜的調(diào)制特性，這樣可能會導(dǎo)致實際操作條件下的調(diào)制器性能評估不準(zhǔn)確。

接收機(jī)靈敏度：光接收機(jī)負(fù)責(zé)將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，它容易受到偏置電平變化的影響。在接收機(jī)上維持穩(wěn)定、準(zhǔn)確的偏置電平是一項非常復(fù)雜且細(xì)致的工作，因為就算是輕微的偏差也會影響信號質(zhì)量，繼而影響整個通信系統(tǒng)的可靠性。準(zhǔn)確地捕捉與光對應(yīng)的大電流變化也極具挑戰(zhàn)性。

通道密度越來越高：高度集成的光器件具有更多的測試端口和元器件，需要大量高精度電源和巨大的空間。例如，一體化可調(diào)諧激光源需要為激光二極管提供精密電流源，才能確保穩(wěn)定的光性能，還需要為加熱器提供高精度的偏置信號源，以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)波長。相干光調(diào)制器也需要采用多個能夠與相位控制電極精準(zhǔn)同步的高精度偏置信號源，以便將電信號準(zhǔn)確轉(zhuǎn)換為光信號。

對現(xiàn)實世界的仿真：在實驗室環(huán)境下仿真現(xiàn)實場景非常具有挑戰(zhàn)性。工程師必須確保測試條件能夠準(zhǔn)確反映數(shù)據(jù)中心運行過程中的復(fù)雜情形。這包括仿真光器件在數(shù)據(jù)中心實際運行中可能遇到的各種變化，例如負(fù)載變化和環(huán)境溫度波動。

總之，對數(shù)據(jù)中心的光器件執(zhí)行直流偏置測試面臨多重挑戰(zhàn)，其中包括密度、精度、動態(tài)條件、非線性特性、靈敏度、高速數(shù)據(jù)傳輸需求和對真實場景的仿真。應(yīng)對這些挑戰(zhàn)需要采用創(chuàng)新的方法和專門的設(shè)備，而源表模塊（SMU）在突破這些復(fù)雜障礙方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。

對光器件展開高精度、高功率密度的測試

為了應(yīng)對數(shù)據(jù)中心環(huán)境下光器件直流偏置測試面臨的多方面挑戰(zhàn)，工程師將目光轉(zhuǎn)向了多功能 SMU。接下來本文會詳細(xì)探討SMU 在幫助工程師應(yīng)對這些挑戰(zhàn)時所發(fā)揮的關(guān)鍵作用。

高精度和穩(wěn)定性

SMU 的精妙之處在于它能精確測量偏置電壓和電流。SMU 具有超高精度，使得工程師能夠極其準(zhǔn)確地設(shè)置和保持偏置電平。SMU 還具有卓越的穩(wěn)定性，確保光器件獲得一致且可靠的偏置條件。SMU 可通過低噪聲直流信號降低引入不必要干擾的風(fēng)險，這些干擾可能會影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。

智能觸發(fā)控制

SMU 擅長動態(tài)偏置控制，這是處理在動態(tài)數(shù)據(jù)中心條件下運行的光器件時用到的一項關(guān)鍵功能。有些 SMU 還有其他功能，例如用于高速時序控制的智能觸發(fā)系統(tǒng)，如圖 2 所示。SMU 的動態(tài)能力使得工程師能夠仿真偏置電平的快速變化，重建光器件在高速數(shù)據(jù)傳輸環(huán)境下面臨的真實場景。這不僅能確保測試的準(zhǔn)確性，還能洞察光器件在動態(tài)運行條件下的性能。

調(diào)制器的非線性特性

SMU 能管理調(diào)制器的非線性特性。憑借 SMU 的可編程性和高精度等優(yōu)勢，工程師能夠準(zhǔn)確捕捉和再現(xiàn)調(diào)制器的調(diào)制特性。通過提供穩(wěn)定、可控的偏置環(huán)境，SMU 可以深入分析調(diào)制器的性能，確保測試結(jié)果與實際預(yù)期保持一致。

接收機(jī)靈敏度

SMU 的一大優(yōu)勢是能解決接收機(jī)的靈敏度問題，因為它們能夠進(jìn)行必要的微調(diào)控制，以便為接收機(jī)提供穩(wěn)定的偏置條件。借助 SMU，工程師可以定制偏置參數(shù)來匹配光接收機(jī)的靈敏度，確保在較寬的電流范圍下和可重復(fù)測試條件下的測試精度。需要特別指出的是，即使偏置電平出現(xiàn)細(xì)微偏差，光接收機(jī)的性能也會受到影響，在這種情況下，SMU 的精密度就顯得尤為關(guān)鍵。

高功率密度的、緊湊的外形設(shè)計

如圖 3 所示， 基于高通道密度對SMU 進(jìn)行外形尺寸設(shè)計，能為用戶節(jié)省寶貴的機(jī)架空間，盡可能縮小測試系統(tǒng)的占地面積。有些靈活的 SMU 支持混搭模塊配置，實現(xiàn)靈活擴(kuò)展。集成了脈沖發(fā)生器和數(shù)字化儀功能的一體化SMU 解決方案，能夠減少所需測試儀器的數(shù)量，縮小系統(tǒng)的占地面積。SMU 在小巧的外形尺寸下提供多通道、高精度的電流偏置，以應(yīng)對光器件測試面臨的挑戰(zhàn)。它不僅精度高，還易于集成，可以簡化光器件的測試評估流程，節(jié)省大量空間，同時提高測試效率。

對現(xiàn)實世界的仿真

SMU 有助于在實驗室環(huán)境下對現(xiàn)實世界中的真實場景進(jìn)行仿真。得益于 SMU 的動態(tài)和可編程特性，工程師可以重建真實數(shù)據(jù)中心運行下的各種條件。無論是仿真負(fù)載變化、環(huán)境溫度波動還是其他動態(tài)因素，SMU 都非常靈活，能確保在接近真實場景的條件下對光器件進(jìn)行測試。

結(jié)論

要想解決光器件直流偏置測試中遇到的各種挑戰(zhàn)，包括密度、精度、智能觸發(fā)控制、非線性特性、靈敏度、高速數(shù)據(jù)傳輸需求和對真實場景的仿真等難題，對于工程師而言，SMU 是一種不可或缺的利器。SMU 的多功能和高精度這兩大特性，對于在數(shù)據(jù)中心環(huán)境下可靠地測試高性能光器件起到了至關(guān)重要的作用。