0　引言

隨著中國(guó)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，上游核心技術(shù)以及底層標(biāo)準(zhǔn)、生態(tài)、架構(gòu)等對(duì)于國(guó)內(nèi)IT環(huán)境的影響越來(lái)越大。IT國(guó)際巨頭壟斷了國(guó)內(nèi)的信息基礎(chǔ)設(shè)施，核心技術(shù)的不足導(dǎo)致國(guó)內(nèi)科技發(fā)展“卡脖子、牽鼻子”，越來(lái)越多的專(zhuān)家開(kāi)始呼吁推動(dòng)核心技術(shù)實(shí)現(xiàn)自主創(chuàng)新。最早在2019年3月26日，就由江蘇省工業(yè)和信息化廳和中國(guó)電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會(huì)安全可靠工作委員會(huì)在江蘇南京召開(kāi)了信息技術(shù)應(yīng)用創(chuàng)新研討會(huì)。隨著信息技術(shù)應(yīng)用創(chuàng)新逐漸受到重視，“信創(chuàng)”一詞也越來(lái)越熱門(mén)，計(jì)算機(jī)的自主創(chuàng)新性以及安全性越來(lái)越重要，發(fā)展計(jì)算機(jī)硬件軟件體系國(guó)產(chǎn)化已經(jīng)“鏈接未來(lái)”。

將國(guó)產(chǎn)化終端設(shè)備推向市場(chǎng)的過(guò)程中，系統(tǒng)驗(yàn)證與測(cè)試的重要性愈發(fā)突出。測(cè)試環(huán)節(jié)中的性能測(cè)試對(duì)保證網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)無(wú)故障地運(yùn)行顯得尤為關(guān)鍵，性能測(cè)試中的場(chǎng)景設(shè)計(jì)測(cè)試屬于基礎(chǔ)性的測(cè)試，只有更加合理地安排測(cè)試場(chǎng)景，才能更好地發(fā)掘問(wèn)題。目前常用的方法大多基于非國(guó)產(chǎn)化設(shè)備，在國(guó)產(chǎn)化設(shè)備的測(cè)試中存在測(cè)試不充分、測(cè)試無(wú)針對(duì)和測(cè)試未規(guī)范等問(wèn)題。隨著中國(guó)電子主導(dǎo)構(gòu)建的通用技術(shù)架構(gòu)和生態(tài)體系“PKS”越來(lái)越成熟，國(guó)內(nèi)迫切的需要一個(gè)規(guī)范化、專(zhuān)業(yè)化的國(guó)產(chǎn)終端性能場(chǎng)景驗(yàn)證方法。本論文由傳統(tǒng)終端性能場(chǎng)景驗(yàn)證方法入手，分析其優(yōu)缺點(diǎn)；然后在PKS體系下的實(shí)際測(cè)試研究中發(fā)掘方向，提出基于PKS體系的適合國(guó)內(nèi)終端性能場(chǎng)景下的驗(yàn)證方法，填補(bǔ)國(guó)內(nèi)系統(tǒng)化性能測(cè)試空白，為未來(lái)的研究人員提供發(fā)展思路，促進(jìn)計(jì)算機(jī)硬件軟件體系國(guó)產(chǎn)化的發(fā)展。

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作者信息：

李亮1，2，3，姜冰1，2，3，方魯杰1，2，3，陳茹萍1，2，李逸凡1，2，徐志亮1，2，3，袁泉1，2，3

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2.海南省PK體系關(guān)鍵技術(shù)研究重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，海南 澄邁 571924；3.中軟信息系統(tǒng)工程有限公司，北京 102209）