5G通信和大數據中心等系統對數據流量需求大幅攀升，帶動了對數據傳輸的更高需求，400G將是新一代數據中心和骨干網建設的大勢所趨。400G光模塊是400Gbps系統的核心部件，其主要功能是光電轉換：在發送端將電信號轉變成光信號，再通過光纖進行傳送，到了接收端再將光信號轉變成電信號。400G光模塊芯片則是形成400G光模塊的基礎，是400Gbps系統競爭的關鍵制高點。

光模塊芯片的頻域測試，是測量和評估光模塊芯片頻域帶寬、3dB截止頻率、反射、差分參數、群延時、二階互調、三階交調等特性的關鍵測試步驟，是晶片在片測試、器件封裝測試等工藝流程中的必須工序。羅德與施瓦茨（Rohde & Schwarz）和六幺四科技（Newkey Photonics）合作開發和推出的400G光模塊芯片頻域測試方案ZNA-GOCA，將羅德與施瓦茨的矢量網絡分析儀ZNA67和六幺四科技的光電底座GOCA67進行硬件和軟件集成，形成一套精確、穩定、高效的光模塊芯片頻域測試方案。

多家光通信產業引領企業用戶已選用羅德與施瓦茨和六幺四科技開發的ZNA-GOCA方案為其400G光模塊芯片的研發測試和生產測試線的頻域測試方案。同時，面向未來800Gbps光通信系統的110GHz頻域和測試方案也已完成用戶驗證。

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案采用“微波光子技術”，突破了傳統方法對測量分辨率和相位精確度的限制，實現微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射，配合電-光、光-電和光-光校準技術，實現大帶寬、高精度、高分辨率的元器件頻譜響應測試。在頻率分辨率、幅度分辨率、相位精確度和動態范圍等關鍵參數上，均實現大幅度提升。

GOCAS光模塊芯片頻域測試軟件界面

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試的測試對象包括：（1）電光器件。如強度調制器（馬赫增德爾調制器）、幅度調制器、電吸收調制器、直調激光器、光發射模塊或鏈路等；（2）光電器件。如PIN光電二極管、雪崩光電二極管（APD）、單行載流子光電二極管（UTC PD）、光接收模塊或鏈路等；（3）光光器件。如光纖、光纖光柵、光集成微環/盤/球、高非線性光纖、可調光延時線、可調光濾波器、微波光子鏈路等。可測參數包括：S參數，3dB截止頻率，群延時，差分和共模參數等。

典型測試結果如下：

     I.光-電器件（待測件：50GHz高速光電探測器）

     Ⅱ.電-光器件（待測件：50Gbps高速電光調制器）

     Ⅲ.光-光器件測量（待測件：光微環芯片）