人們是否深入想過：微小的銀納米線為何改變了電子設(shè)備領(lǐng)域？銀納米線巨大的應(yīng)用潛力是其被關(guān)注的主要原因，人們也是非常看好它的未來應(yīng)用前景。彎曲銀納米線的標(biāo)準(zhǔn)為科學(xué)家?guī)硇碌乃伎挤较颉?/p>

根據(jù)KAUST的實驗研究，表明了銀納米線新的排列方法使它們更耐用。這些銀納米線形成透明的導(dǎo)電膜，被應(yīng)用在太陽能電池、應(yīng)變傳感器和未來手機(jī)。如果將納米技術(shù)應(yīng)用在電子設(shè)備，則需要對單個微小部件進(jìn)行嚴(yán)格的測試，以確保產(chǎn)品實用性。誰也沒想到，銀納米線作為連接顯示器有巨大的應(yīng)用潛力，可以被用于柔性、及近乎透明的網(wǎng)格，也可用于觸摸屏或太陽能電池。

KAUST的實驗是為了改進(jìn)昂貴的商用芯片?？茖W(xué)家采用透射電鏡可以檢測納米粒子，能夠詳細(xì)研究單個銀納米線。這讓透射電鏡設(shè)計和制造樣品芯片，能夠無比準(zhǔn)確的空間分辨率表征和操縱納米材料。然而商用芯片中含有非常薄的膜來支持納米顆粒。KAUST研究團(tuán)隊改進(jìn)新技術(shù)，將銀納米線從鉑電極上懸浮的定制TEM芯片，增加不同頻率的電力，直到銀納米線因電流加熱而失效。最終，科研人員發(fā)現(xiàn)直線型銀納米線在一定高電流密度時，會導(dǎo)致局部結(jié)構(gòu)缺陷決定的點易發(fā)生斷裂情況。

KAUST研究團(tuán)隊突發(fā)奇想，又做了另一組實驗，當(dāng)銀納米線開始處于彎曲狀態(tài)，會發(fā)生有趣的行為。樣品芯片在高壓下發(fā)生彎曲而非折斷，并且顯示出一種愈合現(xiàn)象。原因在于電線外部的碳涂層粘合在一起。電子設(shè)備的使用，會被終端用戶進(jìn)行無數(shù)次的反復(fù)折疊彎曲，意味著將銀納米線應(yīng)用局限在直線結(jié)構(gòu)使不現(xiàn)實的。

銀納米線作為電子設(shè)備的柔性、折疊彎曲的理想性材料，自身有著非凡的應(yīng)用潛能。利用銀納米線來改進(jìn)昂貴的商用芯片，在不降低標(biāo)準(zhǔn)的前提下，提升性能，并降低生產(chǎn)成本會受到人們的喜愛。隨著科技的發(fā)展成熟，銀納米線所想象的應(yīng)用前景，會出現(xiàn)在人類的身邊。