車(chē)輛采用的電子系統(tǒng)IC復(fù)雜性逐漸提高，希望借由執(zhí)行人工智能(AI)算法控制自駕功能，同時(shí)也需滿(mǎn)足《道路車(chē)輛功能安全I(xiàn)SO 26262》標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)《ISO 26262》）要求。因此，IC設(shè)計(jì)公司也正快速采用完整性的測(cè)試解決方案，以便達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。

　　確保車(chē)輛電子能穩(wěn)定的作法之一就是在功能運(yùn)轉(zhuǎn)期間執(zhí)行定期測(cè)試，也就是在邏輯與存儲(chǔ)器利用內(nèi)建自我測(cè)試(Built-in Self Test；BIST)。邏輯BIST也是ISO 26262執(zhí)行診斷測(cè)試的推薦機(jī)制，其包含應(yīng)用在掃描鏈的芯片產(chǎn)生隨機(jī)模式，但在車(chē)用IC執(zhí)行BIST仍有挑戰(zhàn)。

　　首先是符合診斷測(cè)試時(shí)間間隔(DTI)侷限，其次是打造邏輯BIST，以便滿(mǎn)足測(cè)試排程，第三是建立應(yīng)用等級(jí)存取所有芯片邏輯BIST以及啟動(dòng)市場(chǎng)反饋診斷。

　　《ISO 26262》指出，DTI必須介于100至幾微秒之間，這對(duì)于車(chē)用安全完整性等級(jí)中最嚴(yán)格的D標(biāo)準(zhǔn)是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。另外，《ISO 26262》也定義當(dāng)錯(cuò)誤發(fā)生到錯(cuò)誤帶來(lái)有害后果的一段時(shí)間。因此，為了符合DTI，測(cè)試必須平行執(zhí)行，但執(zhí)行平行測(cè)試是架構(gòu)挑戰(zhàn)，可能會(huì)打破設(shè)計(jì)的功率預(yù)算。

　　所有功能安全監(jiān)控與系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試活動(dòng)，通常是由在專(zhuān)用或共享CPU上執(zhí)行的軟件驅(qū)動(dòng)，直接從軟件層存取測(cè)試機(jī)制可減緩開(kāi)發(fā)流程壓力與降低測(cè)試延遲。此外，能發(fā)現(xiàn)故障的電路相當(dāng)重要，特別是牽涉法律責(zé)任的市場(chǎng)反饋。系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試解決方案必須能夠執(zhí)行相同測(cè)試，且收集更多與制造測(cè)試檔案類(lèi)似的測(cè)試細(xì)節(jié)。如此電路便可被診斷去發(fā)現(xiàn)故障根本原因。

　　隨著裝置尺寸與復(fù)雜性不斷增加，滿(mǎn)足《ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)》的質(zhì)量與可靠性要求變得更加困難，因此，在IC設(shè)計(jì)過(guò)程的早期便應(yīng)考慮到設(shè)計(jì)測(cè)試活動(dòng)。在先進(jìn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)流程中采用邏輯BIST，則可幫助廠(chǎng)商達(dá)到質(zhì)量與可靠性指標(biāo)及產(chǎn)品差異化。車(chē)用安全相關(guān)IC的DFT則可透過(guò)EDA供應(yīng)商提供的全面ISO 26262認(rèn)證自動(dòng)化給予輔助。