摘  要： USB3.0幀同步電路設(shè)計(jì)的關(guān)鍵在于高速率下串行數(shù)據(jù)流的幀定位與數(shù)據(jù)對(duì)齊，需同時(shí)兼顧高效率和低功耗。使用Verilog HDL描述語(yǔ)言設(shè)計(jì)了一種基于多相位和并行檢測(cè)技術(shù)的幀同步電路，重點(diǎn)對(duì)并行檢測(cè)電路進(jìn)行分析和優(yōu)化。該電路在ISE中編譯和仿真，結(jié)合數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并將仿真結(jié)果進(jìn)行比較驗(yàn)證，證明該電路能滿足幀同步的速率和時(shí)序要求。

　　關(guān)鍵詞： USB3.0；多相位技術(shù)；并行檢測(cè)；幀同步；Verilog HDL

0 引言

　　近年來(lái)，USB（通用串行總線）作為一種標(biāo)準(zhǔn)的傳輸接口[1]，應(yīng)用十分廣泛。從2008年11月首次發(fā)布USB3.0規(guī)范以來(lái)，在快速存儲(chǔ)、大數(shù)據(jù)高速傳輸?shù)阮I(lǐng)域都出現(xiàn)了USB3.0[2]的身影，延續(xù)USB2.0時(shí)代的輝煌，繼續(xù)展現(xiàn)出強(qiáng)大的競(jìng)爭(zhēng)力。與USB2.0高速版本的設(shè)計(jì)[3]相比，USB3.0的復(fù)雜度大大增加，尤其是5 Gb/s的差分傳輸速率成為設(shè)計(jì)者重點(diǎn)考慮的問(wèn)題之一。高速率、低功耗是當(dāng)前芯片設(shè)計(jì)的主流趨勢(shì)，在提高器件工作頻率的情況下，更需要有效地控制功耗。本文將介紹多相位技術(shù)在USB3.0幀同步系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用，通過(guò)對(duì)并行檢測(cè)電路的優(yōu)化，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)復(fù)雜度、實(shí)用性以及功耗方面的平衡。

1 接收電路的功能與分析

　　USB3.0接收部分的功能結(jié)構(gòu)如圖1所示。

　　為了抑制共模干擾，USB3.0的數(shù)據(jù)采用差分輸入，經(jīng)過(guò)雙端轉(zhuǎn)單端電路，分為兩路送入時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)（Clock Data Recovery，CDR）模塊和串轉(zhuǎn)并模塊。

　　CDR模塊完成從串行數(shù)據(jù)流中提取時(shí)鐘信號(hào)的功能，送至?xí)r鐘管理模塊，得到625 MHz、500 MHz和125 MHz時(shí)鐘信號(hào)供其他模塊使用。

　　幀同步模塊完成對(duì)高速串行數(shù)據(jù)流的并行低速化，通過(guò)并行檢測(cè)幀定界符得到幀同步信號(hào)，同時(shí)控制時(shí)鐘管理模塊的時(shí)鐘輸出，完成數(shù)據(jù)的對(duì)齊處理，經(jīng)過(guò)彈性緩沖模塊得到500 MHz、10 bit的并行數(shù)據(jù)流。

　　幀同步模塊輸出的并行數(shù)據(jù)流先后通過(guò)8 b/10 b解碼模塊、解擾模塊得到500 MHz、8 bit數(shù)據(jù)流與控制信號(hào)；通過(guò)位寬拼接處理最終得到125 MHz、36 bit的數(shù)據(jù)流（其中包含32 bit數(shù)據(jù)和4 bit控制位）寫(xiě)入數(shù)據(jù)FIFO，供LINK層讀取使用。

2 幀同步模塊的設(shè)計(jì)及要點(diǎn)

　　幀同步模塊是接收模塊的難點(diǎn)，主要由以下功能模塊組成：多相位串轉(zhuǎn)并模塊、并行幀定界符檢測(cè)模塊、并行數(shù)據(jù)流對(duì)齊模塊、彈性緩沖模塊。各大模塊及相關(guān)時(shí)鐘結(jié)構(gòu)電路如圖2所示。其中，串轉(zhuǎn)并模塊和并行檢測(cè)模塊是本設(shè)計(jì)的優(yōu)化重點(diǎn)。電路選用XLINX公司的Virtex-5芯片作為設(shè)計(jì)與測(cè)試平臺(tái)。

　　2.1 基于多相位技術(shù)的串轉(zhuǎn)并模塊設(shè)計(jì)

　　傳統(tǒng)的低速串轉(zhuǎn)并電路采用移位寄存器實(shí)現(xiàn)，電路的功耗與工作時(shí)鐘成線性關(guān)系。USB3.0的輸入信號(hào)高達(dá)5 Gb/s，移位寄存器產(chǎn)生的功耗很大，并且工藝要求很高，而0.15 m CMOS工藝條件只能達(dá)到3.0 Gb/s的頻率，繼續(xù)提升工作頻率極易引起電路的不穩(wěn)定。因此，有效地降低器件工作時(shí)鐘頻率，在降低器件功耗和降低生產(chǎn)工藝要求方面具有重要意義，同時(shí)對(duì)相同工藝下提升器件的性能也非常有效。

　　多相位技術(shù)的原理為：利用PLL將CDR恢復(fù)得到的f頻率時(shí)鐘分成多個(gè)頻率為f/N，彼此相位間隔為360°/N的時(shí)鐘信號(hào)，利用這N個(gè)時(shí)鐘對(duì)串行數(shù)據(jù)流進(jìn)行分時(shí)采樣，在相移為0°的f/N頻率時(shí)鐘同步下，合并為N bit的數(shù)據(jù)。這種技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于：在不增加原有功能復(fù)雜度的情況下，利用PLL降低CMOS器件的運(yùn)行時(shí)鐘，從而降低功耗。PLL的引入，能夠一定程度上改善恢復(fù)時(shí)鐘的抖動(dòng)。在PLL設(shè)計(jì)中，當(dāng)分頻值N取2的冪次方時(shí)，可有效簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，在此N取2^3=8。

　　使用Verilog HDL[4]語(yǔ)言對(duì)1：8多相位串轉(zhuǎn)并模塊進(jìn)行描述，部分關(guān)鍵代碼為：

　　always@（posedge clk_XXX or negedge rstn）begin

　　if（!rstn）pdata[n]<=1′b0；

　　else pdata[n]<=sdata_i；

　　end

　　其中clk_XXX代表clk_000~clk_315這8個(gè)相位間隔為45°的時(shí)鐘。采樣得到的數(shù)據(jù)以8 bit為單位送入并行檢測(cè)模塊。

　　經(jīng)過(guò)ISE綜合后模塊非常簡(jiǎn)潔，RTL電路如圖3所示。

　　2.2 優(yōu)化并行幀定界符檢測(cè)模塊設(shè)計(jì)

　　根據(jù)USB3.0規(guī)范，傳輸?shù)臄?shù)據(jù)采用控制碼K28.5作為幀定界符。它的特殊性在于：在所有選定使用的控制碼與數(shù)據(jù)碼中，有且只有K28.5存在5個(gè)連續(xù)的高電平信號(hào)‘1’。因此，許多采用8 b/10 b編碼的傳輸系統(tǒng)都將其作為幀定界符。在傳輸?shù)臄?shù)據(jù)流中，檢測(cè)到“001111010”就可以判定新一幀的開(kāi)始。

　　USB3.0發(fā)送部分的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)8 b/10 b編碼后，數(shù)據(jù)塊由8 bit為單位轉(zhuǎn)換為10 bit為單位，常用的做法為：接收端在f/10的工作時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)下，并行檢測(cè)10個(gè)相鄰位置的10 bit數(shù)據(jù)。通過(guò)并行的方式，從而降低電路的運(yùn)行速度要求，實(shí)際是以空間換時(shí)間的思想。雖然電路工作頻率降低，但整體功耗因電路規(guī)模的相應(yīng)增大而沒(méi)有減小。

　　通過(guò)對(duì)并行檢測(cè)電路的分析可以發(fā)現(xiàn)：假定串轉(zhuǎn)并模塊采用1：N結(jié)構(gòu)，并行檢測(cè)模塊對(duì)M bit數(shù)據(jù)塊進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)單元的規(guī)模為N×M bit。在并行度M bit相同條件下，N越大，需要的邏輯運(yùn)算單元就越多。串轉(zhuǎn)并模塊選擇1：8的比例，不僅可以簡(jiǎn)化PLL設(shè)計(jì)，同時(shí)也能降低邏輯運(yùn)算單元的消耗。

　　其次，減少檢測(cè)數(shù)據(jù)塊的并行度M也是重要途徑。根據(jù)K28.5的特點(diǎn)，在數(shù)據(jù)正確傳輸?shù)那疤嵯轮恍铏z測(cè)其中7 bit，即“0011111”或者“1111101”[5]就能判定為K28.5碼。取M=7 bit，則只需要8×7=56 bit邏輯運(yùn)算單元，相比未優(yōu)化前的10×10=100 bit邏輯運(yùn)算單元減少44%，簡(jiǎn)化了電路的結(jié)構(gòu)，能夠一定程度地提升器件的運(yùn)行效率。

　　2.3 并行數(shù)據(jù)流對(duì)齊模塊設(shè)計(jì)

　　并行檢測(cè)模塊檢測(cè)到幀定界符后，需通過(guò)鎖定單元[6]鎖定當(dāng)前的數(shù)據(jù)流分塊方式，鎖定單元結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)如圖4所示。

　　鎖定機(jī)構(gòu)的工作原理為：當(dāng)某一檢測(cè)單元成功檢測(cè)到幀定界符K28.5的前7 bit，便可推斷數(shù)據(jù)流3 bit后即為實(shí)際所需數(shù)據(jù)流的起始位置，鎖定單元在下一時(shí)鐘沿鎖定當(dāng)前檢測(cè)結(jié)果不再更改，并根據(jù)鎖定的結(jié)果在對(duì)應(yīng)位置每次取出10 bit并行數(shù)據(jù)送至下級(jí)電路，直到檢測(cè)到當(dāng)前幀結(jié)束或者復(fù)位解除鎖定。

　　鎖定單元關(guān)鍵代碼如下所示：

　　wire comma_detect[n]=detect_data_X==7′b1111100；

　　always@（posedge clk or negedge rstn）begin

　　if（!rstn）

　　comma_lock[n]<=1′b0；

　　else if（（!（|comma_lock[7：0]））|fram_end）

　　comma_lock[n]<=comma_detect[n]；

　　else

　　comma_lock[n]<=comma_lock[n]；

　　end

　　其中，n為0~7，detect_data_X表示第0~7個(gè)檢測(cè)單元。

　　由于串轉(zhuǎn)并模塊輸出為8 bit并行數(shù)據(jù)，根據(jù)USB3.0規(guī)范，實(shí)際送入彈性緩沖須為10 bit，因此需要使用位寬轉(zhuǎn)換電路對(duì)數(shù)據(jù)流位寬進(jìn)行轉(zhuǎn)換。方法為：將8 bit位寬拼接成40 bit位寬，通過(guò)判斷鎖定單元輸出的comma_lock信號(hào)，重新選取對(duì)齊后的40 bit，最后分割成實(shí)際需要的10 bit位寬輸出。

3 仿真及驗(yàn)證

　　編寫(xiě)test bench，改變串行數(shù)據(jù)流中K28.5的位置，模擬發(fā)送數(shù)據(jù)幀，在ISim中對(duì)設(shè)計(jì)的電路進(jìn)行仿真驗(yàn)證，仿真波形如圖5所示。

　　經(jīng)過(guò)8組不同位置數(shù)據(jù)（在此只貼出2個(gè)結(jié)果）的對(duì)比可以看出，在不同的數(shù)據(jù)流中，幀定界符K28.5的位置總能夠被正確檢測(cè)，通過(guò)數(shù)據(jù)對(duì)齊模塊后成功分離出后續(xù)模塊所需10 bit并行數(shù)據(jù)，結(jié)果完全正確，且滿足運(yùn)行500 MHz的運(yùn)行速度要求。

4 結(jié)論

　　多相位技術(shù)能夠顯著降低器件的工作頻率，從而減少功耗，同時(shí)也可以降低制造器件的工藝難度；并行處理技術(shù)是當(dāng)前高速電路發(fā)展的趨勢(shì)，合理地利用編碼自身特點(diǎn)，進(jìn)行針對(duì)性的優(yōu)化，能夠使電路更加簡(jiǎn)潔，運(yùn)行速度更快。這兩者對(duì)于提高器件的性能而言，都具有十分重要的現(xiàn)實(shí)意義。

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